通常双绞线系统的测试指标中，（ ） 是由于集肤效应、绝缘损耗、阻抗不匹配、连接电阻等因素，造成信号沿链路传输的损失。

• A衰减值
• B近端串绕
• C传输延迟
• D回波损耗